* Please refer to the English Version as our Official Version.
Betaalmethoden | |
Bezorgdiensten |
Wij garanderen 100% klanttevredenheid.
Ons ervaren verkoopteam en technische ondersteuningsteam ondersteunen onze diensten om al onze klanten tevreden te stellen.
Wij bieden 90 dagen garantie.
Als de items die u hebt ontvangen niet in perfecte kwaliteit waren, zijn wij verantwoordelijk voor uw terugbetaling of vervanging, maar de items moeten in hun oorspronkelijke staat worden geretourneerd.
Onderdeelnummer | Fabrikant | Omschrijving | Voorraad |
8V182512IDGGREP D# V36:1790_07222207 |
Texas Instruments |
Scan Test Device RoHS: Compliant
|
0 |
Onderdeelnummer | Fabrikant | Omschrijving | Voorraad |
8V182512IDGGREP |
Texas Instruments |
IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |
1941 |
Onderdeelnummer | Fabrikant | Omschrijving | Voorraad |
8V182512IDGGREP D# 296-22075-2-ND |
Texas Instruments |
IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |
0 |
Onderdeelnummer | Fabrikant | Omschrijving | Voorraad |
8V182512IDGGREP |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
172 |
Onderdeelnummer | Fabrikant | Omschrijving | Voorraad |
8V182512IDGGREP D# NS-8V182512IDGGREP |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
3995 |
Onderdeelnummer | Fabrikant | Omschrijving | Voorraad |
8V182512IDGGREP |
Texas Instruments |
Enhanced Product 3.3-V Abt Scan Test Devices With 18-Bit Universal Bus Transceivers |
4 |
Onderdeelnummer | Fabrikant | Omschrijving | Voorraad |
8V182512IDGGREP |
Texas Instruments |
RFQ |
1189 |
Heisener's toewijding aan kwaliteit heeft onze processen voor sourcing, testen, verzending en elke stap daartussen gevormd. Deze basis ligt ten grondslag aan elk onderdeel dat we verkopen.
Heeft u een vraag over 8V182512IDGGREP?
86-755-83210559 x831
Scan om deze pagina te bekijken
MOSFET N-CH 30V 11.7A 1212-8
CAP TANT POLY 330UF 6.3V 2917
CONN HEADER PH TOP 8POS 2MM SMD
IC GATE NAND 4CH 2-INP 14-SO
MOSFET P-CH 30V 20A 8-SOIC
IC OPAMP INSTR 10MHZ 10MSOP
CONN FPC BOTTOM 12POS 1.00MM R/A
IC SWITCH QUAD 1X2 14DHVQFN
IC OPAMP GP 1.8MHZ 14SOIC
TVS DIODE 24VWM 44VC SOT23